轴类尺寸光学测量系统Opticline CS系列

1、用于轴类件的质量控制,主要用于尺寸、形状和位置的测量 2、Opticline轴类尺寸光学测量系统是专为生产环境而设计的,并针对轴类件(如车削、磨削等)的现场测量做了特殊优化。 3、OpticlineCS系列具备测量速度快,精度高,柔性大,性价比高等诸多优势,是满足客户中等精度公差测量需求的最佳选择。
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1、用于轴类件的质量控制,主要用于尺寸、形状和位置的测量

2、Opticline轴类尺寸光学测量系统是专为生产环境而设计的,并针对轴类件(如车削、磨削等)的现场测量做了特殊优化。

3、OpticlineCS系列具备测量速度快,精度高,柔性大,性价比高等诸多优势,是满足客户中等精度公差测量需求的最佳选择。